Aktuelle Neuigkeiten

• 19. Nov. 2019

  Das neue Oberflächen-Profilometer SPA 25

  Das neue Oberflächen-Profilometer SPA 25 kann Oberflächentopographie und Rau­heits­pa­ra­me­ter mit herausragender Geschwindigkeit und Auflösung bestimmen. Dank der Weiß­licht­in­ter­fe­ro­me­trie Messtechnik kann das Oberflächen-Profilometer eine Höhenauflösung von 0,1 nm erreichen.

  Mit Hilfe der branchen-führenden MountainsMap® Imaging Topography Analysesoftware ist es dem SPA 25 möglich überaus detaillierte 3D Visualisierungen der Oberflächentextur zu erzeugen. Außerdem kann die Oberflächenrauheit gemäß verschiedener Industrienormen wie ISO 25178, ISO 4287, ISO 13565, ISO 16610, etc. bestimmt werden.

  In Kombination mit einem optischen Kontakt­winkel­messgerät und Kontur­analyse­system der OCA-Serie kann das SPA 25 zusätzliche Erkenntnisse über die Oberflächeneigenschaften liefern und z.B. der rauheitskorrigierte Kontaktwinkel gemäß der Wenzel Theorie bestimmt werden.

  Mehr erfahrennavigate_next

  
• 26. März 2019

  Kontaktwinkelmessung in Aufsicht – jetzt auch auf kleinsten Flächen

  Mithilfe des Pikoliter-Dosiersystems PDDS und eines neuen, speziellen Topview-Messsystems von DataPhysics Instruments können mit den Kontaktwinkelmessgeräten der OCA-Serie jetzt erstmals auch kleinste Oberflächen automatisch durch Kontaktwinkelmessungen in Aufsicht untersucht werden. Beispielsweise auf den Leiterbahnen oder auf einzelnen Kontakten von Platinen lassen sich somit die Benetzung und die Oberflächenenergie bestimmen – selbst dann, wenn die für eine konventionelle Kontaktwinkelmessung benötigte Seitenansicht verbaut ist.

  Vereinbaren Sie jetzt einen Termin mit unserem Applikationszentrum und erhalten Sie Antworten auf Ihre oberflächenchemischen Fragestellungen. Ist Ihre Probe auch noch so klein – wir von DataPhysics Instruments nehmen die Herausforderung an und zeigen Ihnen die für Sie optimale Lösung.

  Kontakt:
  DataPhysics Instruments Applikationszentrum
  phone+49 (0)711 77 05 56 66
  mail_outlineE-Mail schreiben
  sendzum Kontaktformular

  

  Aufsicht-Kontaktwinkelmessungen mit Pikoliter-Tropfen auf den Messpositionen

  

  Aufsicht-Kontaktwinkelmessungen mit Pikoliter-Tropfen auf den Messpositionen

  

  Messpositionen auf einer Leiterplatine, die nur mit Pikoliter-Tropfen untersucht werden können

• 17. Sep. 2018

  Das OCA 200 ist ein Finalist für den R&D 100 Award 2018

  Unser Kontaktwinkelmessgerät und Tropfenkonturanalysesystem für mikroskopische und makroskopische Strukturen OCA 200 ist ein Finalist für den R&D 100 Award 2018. Der jährlich vergebene R&D 100 Award ist einer der angesehensten Forschungs-Innovationspreise der USA.

  Kleinste Tropfen hochflüchtiger Flüssigkeiten können mit den Dosiersystemen für Mikrostrukturen dosiert und Dank des wegweisenden Objektivs und der hochauflösenden Kamera des OCA 200 analysiert werden. Von makroskopischen Silizium Wafern bis zu den mikrostrukturierten Metallstreben eines Koronarstents können sämtliche Probenstrukturen analysiert werden. So lässt sich das Benetzungsverhalten selbst in den Gewindegängen eines Zahnimplantats oder auf einer einzelnen Carbonfaser messen.

  Die Gewinner des R&D 100 Award werden im Rahmen der R&D 100 Konferenz am 15. und 16. November 2018 verkündet.

  
• 12. Sep. 2018

  Neugestaltung des DataPhysics Instruments Internetauftritts

  Der komplett neue gestaltete Internetauftritt von DataPhysics Instruments garantiert eine moderne und schnelle Informations-Platform für unsere Besucher.

  Dank der Integration moderner Internet-Technologien lädt unsere Seite schneller als je zuvor und sieht auf Endgeräten jeder Größe gut aus. Daher können wir Ihnen eine aufgeräumte, schnelle und einfach zu nutzende Erfahrung bieten, egal ob Sie uns unterwegs mit Ihrem Smartphone oder aus ihrem Büro mit Ihrem Computer besuchen

  Wir hoffen Ihnen gefällt Ihr Besuch auf unserer Webseite und wir freuen uns Ihnen helfen zu können Grenzflächen zu verstehen.

  
• 27. Juni 2018

  DataPhysics Instruments expandiert in die Vereinigten Staaten von Amerika

  Als führender Hersteller von leistungsstarken, hochqualitativen und innovativen Lösungen im Bereich der Oberflächen- und Grenzflächen-Messtechnik, hat DataPhysics Instruments ein Tochterunternehmen in Charlotte, USA, gegründet, um fortan den nordamerikanischen und kanadischen Markt besser bedienen zu können.

  Mit Bob Fidler, dem verantwortlichen stellvertretenden Vorsitzenden, werden unsere zukünftigen wie auch vorhandenen Kunden von noch besserem technischen Support und Service vor Ort profitieren.

  Im neuen US Hauptsitz, ist unser gesamtes Geräteportfolio verfügbar, von den optischen Kontaktwinkelmessgeräten und Konturanalysesystemen der OCA Serie, über die dynamischen Kontaktwinkelmessgeräte und Tensiometer der DCAT Serie, zu den Spinning Drop Tensiometern der SVT Serie und dem Dispersionsstabilitätsanalysesystem MS 20 sowie den Feuchtegeneratoren der HGC Serie.

  Mit unserem neuen Standort nur fünf Minuten vom Charlotte Douglas International Airport entfernt, ist DataPhysics Instruments USA Corp. schnell erreichbar – entweder für eine Demonstration des Equipments oder für eine Geräteschulung, um alle Funktionen unserer Geräte inklusive Software zu erlernen.

  Wir führen auch Testmessungen für Sie durch, um eine geeignete Analysemethode für Ihre Probe und so nah wie möglich an Ihrer tatsächlichen Anwendung zu evaluieren. Für größere Gruppen führen wir Seminare beim Kunden vor Ort durch, mit theoretischen wie auch praktischen Anteilen. Wir freuen uns, Sie ausführlich zu beraten und die bestmögliche Lösung für ihre grenzflächenchemische Aufgabenstellung zu finden.

  Adresse

  place4424 Taggart Creek Road,  Suite 102,  Charlotte, NC 28208, USA
  Kontakt:  Bob Fidler
  phone +1 704 777 9063 , 
  mail_outlineE-Mail schreiben ,  Webseite besuchen

  

  Bob Fidler, stellvertretender Vorsitzender der DataPhysics Instruments USA Corp.

• 25. Aug. 2017

  Neues Kontaktwinkelmessgerät für makroskopische und mikroskopische Strukturen

  Das OCA 200 ist das neue Modell der OCA-Serie für die Kontaktwinkelmessung auf großflächigen und insbesondere auf mikrostrukturierten Proben. Dank des wegweisenden Hochleistungsobjektiv mit 10-fach Zoom und der bewährten automatischen Optikausrichtung für Autofokus und Beobachtungswinkel, ist das OCA 200 für jede Probengröße bestens ausgerüstet.

  Dank des erweiterten Zoombereichs sind zusätzliche Vorsatzlinsen und deren Wechsel wie beim Vorgängermodell OCA 100 / 100Micro überflüssig. So lassen sich Dank des elektrisch betriebenen Probentisches und des Autofokus leicht automatisierte Messungen durchführen und Oberflächeneigenschaften wie das Benetzungsverhalten, die Oberflächenenergie oder die Adhäsionsarbeit z.B. über die gesamte Fläche eines Siliziumwafers auf Knopfdruck bestimmen.

  Sollen mikroskopische Strukturen wie z.B. das Metallgitter eines Koronarstents untersucht werden, so genügt ein einfacher Dreh am Zoomring des Objektivs und zusammen mit einem Pikoliter-Dosiersystem PDDS lassen sich Kontaktwinkel selbst auf einzelnen Metallstreben des Koronarstents messen.

  Mehr erfahrennavigate_next

  
• 1. Aug. 2017

  20 Jahre DataPhysics Instruments

  Heute vor 20 Jahren nahm die DataPhysics Instruments GmbH getreu dem Motto Understanding Interfaces ihre Mission in Angriff, Wissenschaftlern in Forschung und Industrie weltweit zu helfen Grenzflächen zu verstehen. Mit viel Einsatz, Begeisterung und Kreativität machte sich die damals siebenköpfige Mannschaft ans Werk um in enger Zusammenarbeit mit späteren Kunden zukunftsweisende Messgeräte mit hohem Anwendernutzen zu entwickeln.

  

Messen & Konferenzen

• demnächst

  • 1. - 6. Dez. 2019

    2019 MRS Fall Meeting

    Das 2019 Fall Meeting der Materials Research Society findet im Hynes Convention Center in Boston (MA), USA statt. DataPhysics Instruments wird als Aussteller vor Ort sein.

    Zur Veranstaltungsseitenavigate_next

    

  • 4. - 6. Dez. 2019

    Coating Japan

    Die Coating Japan findet in der Makuhari Messe in Chiba, Japan statt. DataPhysics Instruments wird vor Ort durch EKO INSTRUMENTS CO., LTD repräsentiert.

    Zur Veranstaltungsseitenavigate_next

    
• weitere Termine

Seminar & Veranstaltungs Termine

Bald finden Sie hier neue Seminartermine für das Jahr 2020.